מעודכן ליום ראשון 21 באוגוסט 2005

0691.2558  יסודות הקרטוגרפיה
מר ציון שתרוגשו"ת
מטרות הקורס:
להקנות ידע על תהליך המדידה והמיפוי הטופוגרפי. ידע זה יסייע להבנה טובה יותר של המפה על יתרונותיה וחסרונותיה, לקריאה נכונה של המפה, ולניצול כלל הפרטים המופיעים בה לצורך השגת מידע גיאוגרפי. בנוסף, יושם דגש על המעבר מהמיפוי האנלוגי למיפוי הספרתי.
נושאי הקורס המרכזיים:
תולדות המיפוי - מדענים ראשוניים בתחום הגיאודזיה.
מבנה כדור הארץ, צורתו גודלו ותנועותיו.
הגיאואידה, האליפסואידה (אליפסואידת הייחוס), הכדור - (רדיוס והיקף).
יסודות הטריגונומטריה, הטריגונומטריה הספרית והגיאומטריה האנליטית.
מערכת קואורדינטות: גיאוגרפית, קרטזית, וגיאוצנרטרית.
חישוב מרחק ואזימוט על פני כדור הארץ מקואורדינטות גיאוגרפיות.
רשת ארצית - קואורדינטות קרטזיות- חישוב מרחק ואזימוט על המישור.
חישוב שטחים - בשיטה גרפית, סמי גרפית ואנליטית.
המיפוי האלטימטרי- הצגות גרפיות שונות של ממד הגובה.
מדידת גבהים בשיטה גיאומטרית, טריגונומטרית, ברומטרית.
ניתוח מפה: שיפוע, קווי ראייה, שטח מת.
עקמומיות כדור הארץ והשפעתה על קווי הראייה.
תורת ההיטלים - עקרונות ואילוצים לבחירת היטל.
היטלים במפות ישראל: קסיני סולדנר, M.T.U, M.T.I.
M.T.I - רשת ישראל החדשה - חידושים, דיוק ויתרונות.
קרטומטריה: העתקת מפות, השלמת מפות, שינוי קנה מידה...
המיפוי האנליטי: הכלים (מחשב, מספרת, תווין ), דיוקים ויתרונות.
שיקולים טרום מיפוי.
סימנים מוסכמים – פונקציה יוצרת
רפרודוקציה - תהליך הכנה קרטוגרפית של המפה לדפוס.
הדפסת המפה - תהליך בדפוס אופסט - צילום, כימוגרפיה, מכונת הדפוס.
S.I.G, (מ.מ.ג) -מערכת מידע גיאוגרפית -, המעבר למיפוי אנליטי.
מ.מ.ג לאומי, מ.מ.ג קדסטרלי, מ.מ.ג עירוני.
השימוש המעשי, בנתוני ה-מ.מ.ג הלאומי בתחום הגיאוגרפי.
חידושים בתחום המכשור: סורק אלקטרוני, תווין אלקטרוסטטי,.....
חישה מרחוק: מיפוי מתמונות לווין, ה-LANDSAT וה-SPOT.
קביעת מיקום בעזרת ה-GPS, שיטות עבודה ודיוקים.
מבט לעתיד – הקרטוגרפיה לאן ?.


מועדי הבחינות:
מועד א' של סמסטר א' יתקיים ביום 02/02/2005 בשעה 9:00
מועד ב' של סמסטר א' יתקיים ביום 18/03/2005 בשעה 9:00